Курс лекций профессора Политехнического университета Марке Франко Рустичелли. 11 марта 2014 года. Новости университета НИТУ МИСИС в Москве

11 марта 2014 годаОбразование

C 17 по 21 марта в рамках магистерской школы «Multicomponent Nanostructured Coatings. Nanofilms» («Многокомпонентные наноструктурированные покрытия. Нанопленки») в НИТУ «МИСиС» пройдет курс лекций «Прогрессивные методы определения свойств материалов, основанные на использовании нейтронного и синхротронного излучений» профессора Политехнического университета Марке, Анкона (Италия) (Università Politecnica delle Marche, Ancona (Italia)) Франко Рустичелли.

Приглашаем студентов, аспирантов и сотрудников университета прослушать курс лекций «Прогрессивные методы определения свойств материалов, основанные на использовании нейтронного и синхротронного излучений» профессора Политехнического университета Марке, Анкона (Италия) (Università Politecnica delle Marche, Ancona (Italia)) Франко Рустичелли, которые пройдут с 17 по 21 марта в рамках магистерской школы на английском языке «Multicomponent Nanostructured Coatings. Nanofilms» («Многокомпонентные наноструктурированные покрытия. Нанопленки»)

Расписание занятий

Аудитория: К212

Дата	Время	Тема лекций
17.03	9⁰⁰— 9⁴⁵ 9⁵⁰— 10³⁵	1. Введение в рассеяние рентгеновских лучей и нейтронов 2. Европейские источники нейтронов и синхротронного излучения
18.03	9⁰⁰— 9⁴⁵ 9⁵⁰— 10³⁵	3. Определение остаточных напряжений с помощью рентгеновской и нейтронной дифракции 4. Исследование микроструктуры с помощью малоуглового рассеяния рентгеновских лучей
19.03	9⁰⁰— 9⁴⁵ 9⁵⁰— 10³⁵	5. Исследование микроструктуры с помощью малоуглового рассеяния нейтронов 6. Рентгеновские и нейтронные радиографические исследования
20.03	9⁰⁰— 9⁴⁵ 9⁵⁰— 10³⁵	7. Трехмерная визуализация с помощью микротомографии рентгеновских лучей 8. Компьютерная микротомография нейтронных лучей для неразрушающего анализа в материаловедении
21.03	9⁰⁰— 9⁴⁵ 9⁵⁰— 10³⁵	9. Изучение микроструктуры поверхности с помощью отражения рентгеновских лучей и нейтронов 10. Определение текстуры с помощью дифракции рентгеновских лучей и нейтронов

Рабочий язык — английский