Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Олимпиада по программированию «Когнитивные технологии»
В НИТУ МИСИС прошла первая лингвистическая олимпиада «Код открытий»
Институт базового образования с кубком первокурсникасегодня, в 15:15
Проекты ArtTECH МИСИС вошли в коллекцию Мультимедиа Арт Музеясегодня, в 10:00