Перечень применяемых в ИЛМЗ методик выполнения измерений
Перечень выполняемых в ИЛМЗ типовых работ и оказываемых услуг (2,1 МБ)
Регламент доступа к оборудованию ИЛМЗ
Себестоимость одного часа работы для подразделений НИТУ МИСИС
Себестоимость одного часа работы для сторонних организаций
- I Спектрофотометр UV-VIS-NIR «Cary-5000» фирмы Varian, Австралия с приставками
- Базовая модель.
- Технические характеристики: двулучевая оптическая схема, диапазон измерений: 175 — 3300 нм, приёмники: PbS (NIR), тип R928 (UV—Vis), лампы: галогеновая, дейтеривая. Ширина спектральной щели — переменная от
0,01-5 нм с шагом 0,01нм. Рабочий диапазон175-3300 нм. Диапазон считывания — до 9,9999 А (200%Т). Возможности «Cary 5000»: спектральные зависимости коэффициентов пропускания (T, %), показателей ослабления (μ, см1), коэффициентов поглощения (Abs, см-1)
- Технические характеристики: двулучевая оптическая схема, диапазон измерений: 175 — 3300 нм, приёмники: PbS (NIR), тип R928 (UV—Vis), лампы: галогеновая, дейтеривая. Ширина спектральной щели — переменная от
- Приставка «DRA-2500» фирмы Labsphere, США. «DRA-2500» — приставка диффузного отражения (Diffusive Reflection Accessory).
- Технические характеристики: фотометрический шар диаметром 150 мм с собственным набором детекторов. Угол падения луча — 8o. Диапазон измерений (250 — 2500) нм. Возможности «DRA-2500»: спектральные зависимости пропускания (Т, %), отражения (R, %), рассеяния (S, %).
- Приставка «UMA» фирмы Agilent Technologies, США. «UMA» — универсальная измерительная приставка (Universal Measurement Accessory).
- Технические характеристики: спектральный диапазон измерений
200-2800 нм. Точность установки длин волн 0,1 нм. Минимальный шаг при измерении угла 0,02˚. Лампы: вольфрам-галогенная и дейтериевая. Возможность поворота образца на 360 ˚ и приемника на угол 10-350˚. Возможности «UMA»: Спектральные зависимости пропускания (Т, %), отражения (R, %), рассеяния (S, %), измерение пропускания и отражения при любом угле, без смены приставок и перемещения образца, при любой поляризации света
- Технические характеристики: спектральный диапазон измерений
- Базовая модель.
- II Микроскоп Carl Zeiss Axio Imager M1m
- Технические характристики: общее увеличение от 50 до 1000х, автофокусировка, револьверное устройство на 7 объективов, диффузионный диск для отраженного света, бинокулярный фототубус 30o/23 (30vis:70doc), объективы EC «Epiplan-Neofluar» 5x, 10x, 20x, 50x ,100x, конденсор Achromatic-aplanatic 0.9H Pol, окуляр W-PL 10x/23 Br.foc. Видео комплект анализа изображений. Возможности: отраженное и проходящее освещение, поляризационное освещение, темное поле
- III Гониометр-спектрометр ГС-2
- Техническое характеристики: рабочий диапазон длин волн 400 — 680 нм, диапазон измерений плоских углов 0 — 360о, правильность при измерении любого углового интервала ± 2’’, точность измерений показателя преломления ± 5· 10-5. Возможности: показатель преломления на 22 длинах волн
- IV Интерферометр типа Физо ИФ-77
- Технические характеристики: источник излучения — гелий-неоновый лазер λ = 0,63 мкм, диаметр измеряемых пластин до 120 мм, правильность интерферометра 0,05 инт. полос. Возможности: отклонение от плоскостности бесконтактным методом от 0,03 до десятков микрометров, количественная оценка внутренней неоднородности прозрачных материалов.
- V Микротвердомер Aaffri DM 8 B AUTO, Италия
- Технические характеристики автоматический выбор инденторов. Пошаговый моторизованный столик 100×100. Полностью моторизованная нагрузка со скоростью 50 μ/sec. Нагрузки (гр.): 1, 3, 5, 10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000, 2000. Время выдержки:
5-99 сек. Общее увеличение: 100х, 400х. Время выдержки: 5 — 99 сек. Измерительная шкала 250 μ/мм. Минимальное деление 0.1 μ/мм. Возможности: определение микротвердости по Виккресу с автоматическим пересчётом по Роквелл и Бринелль
- Технические характеристики автоматический выбор инденторов. Пошаговый моторизованный столик 100×100. Полностью моторизованная нагрузка со скоростью 50 μ/sec. Нагрузки (гр.): 1, 3, 5, 10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000, 2000. Время выдержки:
- VI Испытательный комплекс ИК ЭОЭ-1 для измерения параметров электрооптических элементов.
- Возможности: коэффициенты эллиптичности и контрастности пучка лазерного излучения, прошедшего через электрооптический элемент; статическое полуволновое напряжение
- VII Микроскоп инструментальный ИМЦ 100×50 А
- Возможности: геометрические параметры заготовок с показателем правильности не превышающей 6 мкм.
- VIII Цифровой электрометр, модель 6517А, компании Keithley, США
- Возможности: измерение сопротивления от 10 Ом до 2×1014 Ом с точностью до 51/2 значащих цифр, напряжения от 10 мкВ до 200 В, токовых сигналов от 10-16 А до 20 мА, зарядов от 10-14 Кл до 20 мкКл.
